Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | E-Book |
| Lenguaje: | Anglais |
| Publicado: |
San Diego :
Elsevier Science,
2018.
|
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Acceso en línea: | Accès à l'E-book |